电容电压性测试仪.1.HAD-CV300引言HAD-CV300型电容电压(C-V)性测试仪是测试频率为1MHz的数字式电容测试仪器 。用于测量半导体器件PN结势垒在不同偏压下的电容量 ,也可测试其它电容 。仪器有较的分辨率 ,电容量是四位读数 ,可分辨到0.001pF ,偏置电压分辨率为0.01V ,漏电小分辨率为0.01μA或0.1μA(可选) 。该测试仪器性能稳定
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电容电压性测试仪. 型号:HAD-CV300
1.电容电压性测试仪.HAD-CV300引言
HAD-CV300型电容电压(C-V)性测试仪是测试频率为1MHz的数字式电容测试仪器 。用于测量半导体器件PN结势垒在不同偏压下的电容量 ,也可测试其它电容 。
仪器有较的分辨率 ,电容量是四位读数 ,可分辨到0.001pF ,偏置电压分辨率为0.01V ,漏电小分辨率为0.01μA或0.1μA(可选) 。
该测试仪器性能稳定可靠 ,能齐 ,度 ,操作简单 ,适用于元件厂家 ,科研 ,等院校等单位 。
2. 原理
CV法利用PN结或肖基势垒在反向偏压时的电容性 ,可以获得材料中杂质浓度及其分布的信息 ,这类测量成为C-V测量 。这种测量可以提供材料横截面均匀性及纵向杂质浓度的分布信息 。
组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应(势垒电容) ,加正向偏压时 ,PN结势垒区变窄 ,势垒电容变大;加反向偏压时 ,PN结势垒区变宽 ,势垒电容变小 。
该仪器采用电电压测量方法 ,它用微处理器通过8 次电压测量来计算每次测量后要求的参数值 。用个相敏检波器和模数转换器顺序快速成电压测量 。正交测量通过交换测量信号的相位来行 ,而不是参考相位检测 。因而不需要的模拟相位转换成电压矩形波电路 。通过从同个频信号源形成测试信号和参考信号 ,来保证正确的相位关系 。由微处理器根据已知的频率和测试信号相位 ,用ROM 存储器内的程序和所存储的按键选择来控制测量顺序 ,以及存储在RAM 中的校准数据来计算被测元件数值 。
3. HAD-CV300参数
3.1. 测试信号频率:1.000MHz±0.01%
3.2. 测试信号电压:≤100mVrms
3.3. 测量速率:慢3次/秒 ,快5次/秒
3.4. 测量范围:
电容C:0.001-10000 pF
漏电:0.01-19.99μA
3.5. 直偏压:仪器自带偏压0.01-35V ,分辨率:0.01V;(可外接偏压源拓展 ,大偏压输入为100V)
3.6. 作误差:±5.0%±2字
3.7. 预热时间:30min
3.8. 供电电源:
交电压:220V±10% ,频率:50Hz±5% ,消耗率:≤40W
3.9. 作必一运动(B-Sports)官方网站
温度:0-40℃ , 湿度:≤65%
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