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产品简介
半导体粉末电阻率测试仪,粉末电阻率仪 型号；HAD-2722概述HAD-2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器 。仪器组成： 整套仪器有主机和粉末测试台两大分组成 。
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半导体粉末电阻率测试仪,粉末电阻率仪 型号；HAD-2722
概述
HAD-2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器 。
仪器组成： 整套仪器有主机和粉末测试台两大分组成 。
主机 是整个系统电气控制显示核心分 ，主要由必一运动(B-Sports)官方网站、分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力厚度显示单元组成 。
粉末测试台 是连接测试主机 ，用来装夹半导体粉末（含分子粉末和金属粉末等） ，行压力施加（压片） ，并同步行电阻率测试的装置（以下简称测试台） 。
测试台为粉末标准容器、电、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成 。
优势征：测试台 ，符合标和行业规范 ，内* ，并获家 。有两款 。
四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关标和行业标准 。采用际通用的电、电压四端子测量法（仪器电源和电压表两个单元分别从立回路连至电同时和样品接触） ，可以消除电与连接导线导通电阻产生的误差 ，克服了传统的二端法测量粉末电阻率仪器的弊病 ，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率 ，因此重复性也好 。
四探针法测试台符合符合GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正材料》
中关于粉末电阻率测试的原理和规范 ，参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直四探针法》并参考美A.S.T.M 标准 。
四探针法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线 ，”
内行业* ，行业粉末电阻率标准测试方式 。
仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校能；电压电自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示 。
压力机构采用手动操作 ，压力（压强）平稳可调、可保持 。电子传感器自动同步检测、显示压力（压强）值和样本度 。故本测试台可边加压边同步测试电阻率 ，可方便测绘粉末样品“电阻率-压强”的性能曲线；也可以单作为粉末压制成片的具使用 ，成片后可脱模取出 ，用普通四探针法测试相关参数！
本测试仪配有成套PC软件 ，故不但可以单（脱机）操作 ，还可以连接PC软件 ，自动保存当前测试数据、查询并统计分析历史数据、打印测试报告等！
本仪器具有测量度 ，操作简便、稳定性好 ，重复性好 ，机多用使用方便等点 。也是区别于以往旧款测试台新点！ 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、等院校、科研、是检验和分析固态和粉态样量的种重要优良具 。
三、参数
1. 电阻率测量范围、分辨率
电 阻 率： 15.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101 Ω-cm）
电阻率量程划分及误差等
满度显示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 |
大拓展量程 | KΩ-cm | Ω-cm | mΩ-cm | |||||
基本误差 | ±2%读数±4字 | ±1.5%读数±4字 | ±0.5%读数 ±2字 | ±0.5%读数 ±4字 | ||||
3. 数字电压表：
⑴量程：10mV ～ 100 mV ，自动
⑵显示: 4位有效数字 ，大显示999.9 小数点、单位自动显示
4. 数控必一运动(B-Sports)官方网站
电输出：直电0.1µA～1000mA可调 ，系统自动步调整 。
5.粉末测试台分参数：
（1）、试样成份：成份不限 ，但不得含有对测试台和电有腐蚀作用的成份 。
（2）、试样粒度：标准以40目以下—60目以上（标准筛网） ，般其他粒度也可！
（3）、试样容器：内径：Φ11.28mm（S=1.0cm2）
度：0～20mm可调,带度传感器监测 ，测量误差：±0.05mm 。
（4）、测试压强
标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa 。
压强量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可调 。
（5）、压力机构采用手动操作、压力平稳可调 。
四位有效显示数00.00～20.00MPa ，分别率±0.01 MPa 。
6.测试仪外形与重量
前宽×长×总=250mm×220 mm×540mm
重 量=10Kg
7. 电源：
耗：< 10W
输入:220V±10% 50Hz
8. 本仪器作条件为：
温 度： 0-40℃
相对湿度： ≥60%
作室内应无强电磁场干扰 ，不与频设备共用电源
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