数字式硅晶体少子寿命测试仪为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量  ，按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪 。                                                      

   该生产设备是决定家规定GB/T1553“硅单晶硅大多数载子生存期分析的频光学子导衰除法”制 。频光学子导衰除法在我半导体行业整合用电线路、单晶体管、整元器、核测探器行早已结合了三十四十几年  ，积淀了充沛的应用临床经验  ，經過多次十几个方巡回检验的磨砺  ，验证是种成孰正规的检验方式  ，别符合于硅块、硅棒研磨机设备面的少子体生存期侧量；也可对硅片行侧量  ，说出取决于生存期值 。方式其实质就对仿品从表面的想要为研磨机设备面  ，制样简便方法 。 

 数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下点：

1、 可测试太阳什么能多晶硅块、单结晶体硅棒较少载子体时间 。表面能抛光处理  ，马上对打磨面或打磨面行测试 。此外可测试多晶硅定期检查棒及一体化集成运放、整器、结晶体管硅单结晶体的少子时间 。2、  可检测的地球能单晶硅及多晶硅片少数几个载子的对于时间  ，表面上cnc必一运动(B-Sports)官方网站机械加工、钝化 。3、合理配置用游戏的加数示波器  ，提示屏屏上进行提示少子质保期值  ，一同提示的动态光电科技导衰落波型  ，并可联用打印出机及算起机 。