应用概述：射线探伤是利用射线可以穿透物质和在物质中有衰减的性来发现其中缺陷的种
无损探伤方法 。它可以检查金属和非金属材料及其制品的内缺陷  ，如焊缝中的气孔、夹渣、
未焊透等体积性缺陷 。这种无损探伤方法有的性  ，即检验缺陷的直观性、准确性和可
靠性  ，而且  ，得到的射线底片可用于缺陷的分析和作为质量凭证存档 。
使用原理：根据被检件与其内缺陷介质对射线能量衰减程度的不同  ，使得射线透过件后
的强度不同  ，使缺陷能在射线底片上显示出来 。
应用范围：对非金属、轻金属、铸件、各种合金、压力容器等行 X 射线无损检测

辐射方式：定向辐射 光管材质：陶瓷光管